Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“
Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.
SENTECH im regen Erfahrungsaustausch mit Ellipsometer-Nutzern auf dem 8. Ellipsometrie Workshop (WSE 2014) in Dresden
Dieses dreitägige Event wurde vom Leibniz Institute für Polymerforschung in der Dreikönigskirche in Dresden organisiert. Dabei wurden die neuesten Entwicklungen bezüglich Applikation und Forschung im Bereich Ellipsometrie vorgestellt und diskutiert. Im Focus standen dabei unter anderem Untersuchungen im Zusammenhang mit der Auswertung der Müller-Matrix. In diesem Trend bieten wir eine smarte Option zur Bestimmung aller […]