Schlagwort: spektroskopische-ellipsometer

Energie

Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“

27. Mai 2014
Redaktion

Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.

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Industrie

SENTECH im regen Erfahrungsaustausch mit Ellipsometer-Nutzern auf dem 8. Ellipsometrie Workshop (WSE 2014) in Dresden

28. April 2014
Redaktion

Dieses dreitägige Event wurde vom Leibniz Institute für Polymerforschung in der Dreikönigskirche in Dresden organisiert. Dabei…

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