Pressemitteilung: SENTECH lädt ein zum anwendungsorientierten Seminar über „Ellipsometrie und Reflektometrie zur Charakterisierung dünner Schichten“
Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.
Die Veranstaltung findet am 24. Juni 2014 im Novotel München Messe in München-Riem statt.