„Laserhersteller müssen zunehmend kleine Merkmale in einem großen divergenten Strahlbereich finden, wie z. B. bei der Halbleiterherstellung“, so Reuven Silverman, General Manager von Ophir Photonics. „Die SP504S Strahlprofilkamera kann solche Strahlen mit Durchmessern von bis zu 23 mm erfassen und genau analysieren. Zuvor mussten große Strahlen oft mit Optiken reduziert werden, so dass der Strahl den Bildsensor der Kamera nicht überfüllt. Dabei besteht jedoch die Gefahr, dass eine Optik im Strahlengang die räumlichen Eigenschaften des Strahls verfälscht. Dank des großen Abbildungsfeldes und der hohen Auflösung der SP504S Strahlprofilkamera müssen die Strahlen für die Messung nicht mehr verkleinert werden.“
Die Ophir SP504S Strahlprofilkamera kombiniert einen großen 32,5 mm CMOS-Sensor, der als „Global Shutter“ alle Pixel gleichzeitig auslesen kann, mit hoher Auflösung. Die Kamera verfügt über ein kompaktes Design mit einem Gewindeadapter, der Industriestandardgewinde 2,035″-40 für 2″-Optiken und Zubehör enthält. Stapelbare ND1-, ND2- und ND3-Filter sind ebenfalls vorhanden. Die GigE-Schnittstelle der Strahlprofilkamera ermöglicht eine Fernverbindung für industrielle Anwendungen.
Die Ophir SP504S Strahlprofilkamera wird von der BeamGage Standard sowie der BeamGage Professional Software von Ophir unterstützt. BeamGage basiert auf dem patentierten UltraCal Algorithmus. Er ermöglichte es, den ISO11146-3 Standard für die Genauigkeit von Strahlprofilmessungen umzusetzen. Die BeamGage Software beinhaltet alle Berechnungen, um präzise ISO-konforme Messwerte zu liefern; darunter Leistung, Strahldurchmesser und -form, Divergenz, Strahlprofil und erwartete Leistungsverteilung. Die Software bietet eine fortschrittliche Bildverarbeitung und liefert NIST-rückführbare Leistungsmessungen, Trenddiagramme, Datenlogging, Produktionstests OK/NOK sowie mehrsprachige Unterstützung. Weitere Informationen zu neuen Ophir Strahlprofilkamera und Lasermesstechnik finden Sie unter www.ophiropt.com