„MicroScope WLI“ heißt das neue optische
Oberflächenmessgerät aus dem Hause Fries Research & Technology (FRT).
Auf Basis eines optischen Mikroskops bietet es ein vollwertiges
Weißlichtinterferometer für zerstörungsfreies Messen. Damit lassen
sich 3D-Messungen an Oberflächen mit extremer Höhenauflösung schnell
und einfach durchführen. Konzipiert ist es insbesondere für
F&E-Abteilungen und Universitäten.
Leistungsstarke Hard- und Software
Einfach zu bedienen, universell einsetzbar und extrem zuverlässig
– das sind die Eigenschaften des neuen MicroScope WLI von FRT: Ein
optisches Mikroskop mit einem 4-fach Objektivrevolver und einem
Weißlichtinterferometer. Das Messgerät ist klein, kompakt und
flexibel einsetzbar. Besonders für F&E-Abteilungen und Universitäten
ist es – dank des überschaubaren Investments – sehr geeignet und
liefert zuverlässig Daten zu Rauheit, Stufenhöhe, Profilen und
3D-Strukturen. Die interferometrischen Messungen erfolgen mit
extremer Höhenauflösung und, je nach Objektiv, mit entsprechend guter
lateraler Auflösung.
Das MicroScope WLI verfügt über einen motorisierten Tisch mit 100
x 100 Millimetern Verfahrweg. Der axiale Messbereich beträgt 400 µm.
Der 4-fach Objektivrevolver ist mit einem piezoelektrischen
Objektivversteller für höchste Genauigkeit ausgestattet. Durch eine
Auswahl an Objektiven können verschiedene Messfeldgrößen und
Auflösungen realisiert werden. Im Lieferumfang enthalten ist ein PC
mit der Software Mark III für Profil- und Topographieanalysen,
Rauheitsanalysen, Stufenhöhen sowie zahlreichen 2D- und 3D-Filter-
und Auswerteroutinen. Die durchschnittliche Messdauer beträgt dabei
nur wenige Sekunden.
Zusätzlich zu den Interferometer-Objektiven können noch drei
übliche Mikroskopobjektive montiert werden. Dies spricht besonders
Anwender an, die auch sonst mit optischen Mikroskopen arbeiten, so
z.B. Universitäten, biologische Labors, medizintechnische Labors oder
ähnliche.
Pressekontakt:
Dr. Oliver Schillings
Alpha & Omega PR
Buchenallee 20
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